日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可发挥其高性能。SU3900标配多功能大样品仓，可应对大型样品的观察。日立电镜_钨灯丝扫描电镜_SU3800/SU3900扫描电子显微镜特点：①SU3900标配多功能大样品仓，可应对大型样品的观察■样品台可搭载大/重样品通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度*红外CCD探测器，提高了样

　　FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现直观的视野移动。尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率凭借特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现高的画质全新的用户界

　　TM4000PlusIII/TM4000III的特点：★节省人力成本，降低操作技术难度▲多样品自动化观察：观察工作流程的自动化功能（TM4000PlusIII）可以作为程序保存样品台移动、倍率变更、拍照等观察流程。程序化的观察流程，一键单击即可自动执行操作。为不同类型客户（如日常使用量较多，需进行多样品观察的客户，对观察条件不确定的客户等）节省人力成本，降低操作技术难度。▲实现快速自动颗粒分析：大电流功能 + AZtecLiveLite 颗粒分析功能工业产品的清洁度分析和使用过滤膜收集颗粒并进行自动分析的

　　更灵活的成像工具 – 配备Gemini 1镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 360可以实现各种样品的高分辨成像、分析和各种应用需求的拓展。更强大的分析能力 - 配备Gemini 2镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 460可应对更加复杂的分析工作。连续可调的大束流使您可以在成像和分析条件之间无缝切换。更高性能的表征体验 - 蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 560配有Gemini 3镜筒及其新型电子光学引擎，让它在各种工作条件下均可发挥该系列高分辨率特性。★司场发射扫描电镜Gemin

　　蔡司MultiSEM扫描电子显微镜简介：借助 MultiSEM 显微镜，您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款扫描电子显微镜（SEM）专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM 便能够立地自动完成高衬度图像采集。使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM：您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。蔡司MultiSEM扫描电子显微镜特点：n以较高速度和纳米分辨率采集图像=9

　　AFM作为一种扫描探针显微镜(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直径为数纳米(1纳米：百万分之一毫米)的尖锐探针扫描样品表面，可同时实现纳米级别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。AFM已广泛应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。AFM100/100Plus，非专业人员都能轻松且稳定地获取可靠数据，从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。特别是AFM100 Plus，其用途十分广泛，可用于从观察石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料

　　扫描探针显微镜AFM5500MⅡ配置宽范围平板扫描器，降低了机械原因造成的测量误差。自动悬臂更换等自动化功能有助于提升品质管理，提高测试效率。单使用AFM5500MⅡ测试可以得到形貌和物理测量结果，再利用与SEM/CSI等其他显微镜的共享坐标样品台功能，可以实现高精度的故障解析与缺陷评价。此外，由于新增了AFM标记功能，多台设备可以轻松测量样品的同一位置。HITACHI日立全自动扫描探针显微镜AFM5500MⅡ规格：型号AFM5500M尺寸・重量装置外观尺寸・重量※1750 mm(W) x 877 mm(

　　AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。1. RealTune® II的参数自动设置功能有的参数自动设置功能！RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，率、高精度地调整成合适的测量条件。通过新增加的参数自动设置功能（RealTun

　　Orion NanoFab 拥有纳米加工和成像引擎 - 配有集成软、硬件的控制系统。纳米图形发生器（NPVE）为每个 NanoFab 镜筒提供了一台 16 位扫描图形发生器，以及支持实时图案加工和成像的双信号采集硬件。通过图形化用户界面（GUI）完全控制离子束：可创建一系列可编辑的形状，如矩形、梯形、多边线、直线、折线、椭圆及点。然后，对这些形状进行矢量切割，并通过剂量和加工参数的调节进行完全的过程控制。离子束显微镜ORION NanoFab特点：快速亚 10 nm 结构加工使用氖和氦离子束加工有高精度要

　　显微分光光度计采用了光栅和光线感应器，可进行高速可重复的测量。 可测量多数分光光度计无法测量的曲面和平面微小的点。奥林巴斯近红外显微分光测定仪USPM-RU-W从380nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此十分适用于光学元件与微小的电子部件等产品。n使用一台即可进行反射率、膜厚、物

　　LUMOS II 是一款独立的傅立叶变换红外显微镜，可用于失效分析、材料研究和颗粒分析等方面。它采用FPA技术，结构紧凑、精确，具有超快的化学成像功能。傅立叶变换红外显微镜LUMOS II技术特点：标准TE-MCT探测器即插即用：无需液氮，无需吹扫可选的焦平面阵列（FPA）成像探测器新校准技术 PermaSure+全电动化和自动化硬件允许最大样品厚度达40毫米包括激光在内的元件寿命长抗高湿度（ZnSe光学元件）独立设计，占地面积小低功耗傅立叶变换红外显微镜LUMOS II提供：◎软件引