OPTACOM粗糙度轮廓测量仪特点：• 适用于各种轮廓测量任务的强大全能系统• 使用可选的粗糙度模块一次测量轮廓和粗糙度• 直接在处具有 30 nm 的出色真实分辨率• 自动Y工作台可选• 轴导轨和头部由一个工件一体制成• X 轴与 Z 轴连接，对无间隙• 非接触式线性增量测量系统，对无磨损• 机器校准（包括探头校准）在 3 分钟内完成• 使用 optacom 快速更换紧固件快速更换测针笔尖 – 无需工具且不会损失精度• 高精度线性轴，采用高强度航空铝制成的机身集成驱动器

　　产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光，从而得到这个点距离透镜的垂直距离。- 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标，即X-Z坐标- 然后以S路径获得物体每个点的三维X-Y-Z坐标- 后将采集的三维坐标数据交给的三维处理软件进行各种表面参数的分析。 - 软件能够自动获取用户关心的表面

　　ST400型三维表面轮廓仪是一款多功能的三维形貌仪，采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收

　　PS50型三维表面形貌仪是美国NANOVEA公司推出的一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射

　　JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点。产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的

　　KOSAKA SE 700系列表面粗糙度测定机，是一款多功能的全自动测量产品，可进行高精度、高水平分析和多功能粗糙度测量，在机械加工、精密模具、电子组件等行业广泛应用，无论是工厂车间或实验室研究都能自如操控。表面粗糙度测定仪SE700特点：* KOSAKA表面粗糙度测定机SE 700系列产品可进行高精度、高水平分析。* 长X轴测量长度，可针对不同尺寸工件，X:120mm/Z:800um。* 配有各种型号的高精度触针。* 配有多种功能，如真直度补偿功能，确保了X轴的线性精度；圆弧补偿功能，可保证触针的垂直移

　　KOSAKA粗糙度仪|SE500A表面粗度测定机产品概述：●多功能的表面粗度、波纹度、段差测定。●对应各国的工业规范、多样化的参数、可同时解析多种规格。●是精密轻便的高性能测定机，另有多种组合（搭配立柱床台）扩充性优越可对应多种工件。● 55mm长的驱动距离且具备直线度精度。●搭配触控萤幕及一键式测量按钮，便于操作。较宽广的记录纸有效幅宽，扩大形状记录范围。另可使用USB储存测量结果。●具备自动的校准机能。KOSAKA表面粗度测定机SE500A 产品参数：测定参数JIS (2001/94/82)、DIN、

　　HOMMEL霍梅尔-粗糙度/轮廓仪-形状测量仪型号配置多样。霍梅尔粗糙度轮廓仪、便携式粗糙度仪等产品示例：W5 测量仪的粗糙度测量可靠且高度精密，令人印象深刻。系统可以准确定位在工件上，而且不会滑动。它的重量很轻，采用紧凑设计，这意味可将其轻松用于移动应用场合。该测量仪配备电池组，这意味着即使频繁使用也不会让您失望：可为过 800 次测量持续提供电力。可以轻松快捷地更换粗糙度探头（测量探头），这意味着 W5 可以用于执行无数不同的测量任务。该测量仪采用直观的触控式滚轮和彩色显示屏，使用起来非常容易。

　　表面粗糙度轮廓形状测量仪SURFCOM 1800G/2800G简介：AI功能（粗糙度）测量机自动设定测量条件，执行测量。自动操作日志和回放功能（粗糙度/轮廓）可自动保存包括驱动部和立柱的动作在内的测量和分析的步骤，执行CNC测量。尺寸线显示功能（轮廓）可在图形上将参数、几何偏差等实测值记录在尺寸线上。内置形状的合成功能解决因测针具有的角度而发生的分析范围的限制（轮廓）。ACCTee测量与分析软件ACCTee是进一步提高操作性的表面粗糙度和轮廓形状的测量和分析软件。由于配置有可依据向导操作的向导模式、AI功

　　东京精密轮廓形状测量机CONTOURECORD 1600G/2600G特点：自动要素判定功能（AI功能）无需指定点、直线、圆等的要素即进行自动判定。尺寸线显示功能可以在图形上显示参数和几何偏差的实测值。形状合成功能通过合成功能解决因测针角度引起的解析范围限制。峰值和谷值功能通过测针的跟踪，可以检测工件的最大点，从而更容易进行位置调节。计算点的重复功能具有重复形状的工件，只需进行1个模式的分析即可分析整个情况。轮廓度评价充实测定数据（点数据）与设计值的偏差比较功能、设计值创建功能、最佳拟合功能，以及为了与C

　　ACCRETECH东京精密粗糙度仪轮廓仪|SURFCOM NEX 系列表面粗糙度/轮廓-测量仪简介：轮廓和表面测量仪提供不同的，有时可组合的传感器用于粗糙度测量、轮廓测量或两者兼有。未来灵活提供两种不同尺寸的花岗岩测量台和三种不同尺寸的柱子，为各种应用提供了广泛的解决方案。由于具备光学和触觉传感器的多传感器功能，可确保未来兼容。所有触觉笔尖都可以在不使用工具或螺丝的情况下互换。家具解决方案不同的包装选项完成 SURFCOM NEX 系列：节省空间的DX变体适合生产坚固耐用，价格优惠的DX版本，带有集成主动

　　东京精密表面粗糙度测量机SURFCOM 1400G简介：便于掌握测量操作的AI功能即使事先不设定测量条件，测量机也可以自动进行选择（粗糙度测量）。此外，为了掌握测量机的操作，备有教学模式。“任何人都能轻易掌握测量操作的测量机”这正是东京精密公司的理念。 采用全自动测量，提高测量效率通过教学功能，可从多个测量点进行数据粘贴，自动完成检查报告的制作。。 大力强化形状评价功能，满足客户要求真挚地接受客户要求，将其反映在可对膜厚测量（断差/面积）、磨耗量计算（重叠形状间的面积）、液晶用玻璃基板（特殊波纹度）的规格