OPTACOM粗糙度轮廓测量仪特点：• 适用于各种轮廓测量任务的强大全能系统• 使用可选的粗糙度模块一次测量轮廓和粗糙度• 直接在处具有 30 nm 的出色真实分辨率• 自动Y工作台可选• 轴导轨和头部由一个工件一体制成• X 轴与 Z 轴连接，对无间隙• 非接触式线性增量测量系统，对无磨损• 机器校准（包括探头校准）在 3 分钟内完成• 使用 optacom 快速更换紧固件快速更换测针笔尖 – 无需工具且不会损失精度• 高精度线性轴，采用高强度航空铝制成的机身集成驱动器

　　产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光，从而得到这个点距离透镜的垂直距离。- 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标，即X-Z坐标- 然后以S路径获得物体每个点的三维X-Y-Z坐标- 后将采集的三维坐标数据交给的三维处理软件进行各种表面参数的分析。 - 软件能够自动获取用户关心的表面

　　ST400型三维表面轮廓仪是一款多功能的三维形貌仪，采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收

　　PS50型三维表面形貌仪是美国NANOVEA公司推出的一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射

　　JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点。产品原理：采用白光共聚焦色差技术- 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。- 位于白光光源的对称位置上的灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。- 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的

　　KOSAKA SE 700系列表面粗糙度测定机，是一款多功能的全自动测量产品，可进行高精度、高水平分析和多功能粗糙度测量，在机械加工、精密模具、电子组件等行业广泛应用，无论是工厂车间或实验室研究都能自如操控。表面粗糙度测定仪SE700特点：* KOSAKA表面粗糙度测定机SE 700系列产品可进行高精度、高水平分析。* 长X轴测量长度，可针对不同尺寸工件，X:120mm/Z:800um。* 配有各种型号的高精度触针。* 配有多种功能，如真直度补偿功能，确保了X轴的线性精度；圆弧补偿功能，可保证触针的垂直移

　　KOSAKA粗糙度仪|SE500A表面粗度测定机产品概述：●多功能的表面粗度、波纹度、段差测定。●对应各国的工业规范、多样化的参数、可同时解析多种规格。●是精密轻便的高性能测定机，另有多种组合（搭配立柱床台）扩充性优越可对应多种工件。● 55mm长的驱动距离且具备直线度精度。●搭配触控萤幕及一键式测量按钮，便于操作。较宽广的记录纸有效幅宽，扩大形状记录范围。另可使用USB储存测量结果。●具备自动的校准机能。KOSAKA表面粗度测定机SE500A 产品参数：测定参数JIS (2001/94/82)、DIN、