AFM作为一种扫描探针显微镜(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直径为数纳米(1纳米：百万分之一毫米)的尖锐探针扫描样品表面，可同时实现纳米级别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。AFM已广泛应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。AFM100/100Plus，非专业人员都能轻松且稳定地获取可靠数据，从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。特别是AFM100 Plus，其用途十分广泛，可用于从观察石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料

　　扫描探针显微镜AFM5500MⅡ配置宽范围平板扫描器，降低了机械原因造成的测量误差。自动悬臂更换等自动化功能有助于提升品质管理，提高测试效率。单使用AFM5500MⅡ测试可以得到形貌和物理测量结果，再利用与SEM/CSI等其他显微镜的共享坐标样品台功能，可以实现高精度的故障解析与缺陷评价。此外，由于新增了AFM标记功能，多台设备可以轻松测量样品的同一位置。HITACHI日立全自动扫描探针显微镜AFM5500MⅡ规格：型号AFM5500M尺寸・重量装置外观尺寸・重量※1750 mm(W) x 877 mm(

　　AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。1. RealTune® II的参数自动设置功能有的参数自动设置功能！RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，率、高精度地调整成合适的测量条件。通过新增加的参数自动设置功能（RealTun