介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至更低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为准确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量

　　300mm晶圆自动搬送机AL120-12简介：AL120-12晶圆搬送机对应可使用FOUP（装载口）和FOSB，适用于低成本的后期检查。安全且符合人体工程学的设计确保了操作人员在搬送晶圆时（包括薄晶圆和变形晶圆）的效率和安全。n人机工程学设计，操作方便=可以自由设置的检查模式，在设计上考虑了后道工程中的操作性，尤为重视设备的操作简便性。=分别对应FOUP(Load Port）和FOSB的两种机型。n坚固、可靠和安全传送=延续了上一代机型的坚固性、可靠性和安全性，能够安全可靠的传送300 mm晶圆。=薄片，

　　AL120晶圆搬送机可对应200mm以下晶圆尺寸的硅、化合物晶圆，可以搬送薄片晶圆，非常适合于前道到后道工程的晶圆检查。※适应范围广、搭配灵活n对应多种尺寸组合=推出了200 mm专用型、200mm/150 mm兼用型和150 mm型（对应小于150 mm的晶圆）的3种型号。除此以外，您还可以根据检查模式，选用微观检查专用型号"L型"或微观•宏观检查兼用型号"LMB型"。n薄片检查=对应薄片制造厂家的需求，AL120-LMB-90搭载的新型搬送手臂的设计可以搬运整盒

　　电子半导体真空干燥箱产品型号：BPZ-6933B BPZ-6503B BPZ-6213 BPZ-6213B BPZ-6123 BPZ-6123B BPZ-6063 BPZ-6063B BPZ-6033 BPZ-6033B电子半导体真空干燥箱用途概述：本产品适用于电子产品生产过程的脱泡、脱水、硬化和洗净处理后的干燥等真空状态下的热处理，广泛用于锂离子电池、LED光电元件、晶振等电子产品生产工艺的真空干燥处理。电子半导体真空干燥箱产品特点：● 工作室采用不锈钢板制成，产品经久耐用，便于清洁。● 长方形真空室，

　　台式XRF光谱仪_RoHS检测仪|EA1000AIII,EA1400&EA6000VX简介：EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。在专用RoHS分析的EA1000系列和RoHS、镀层和元素分析的EA6000范围之间进行选择。日立XRF RoHS分析仪特点：操作方便自动采样灵活校准以适应新的RoHS标准自动突出显示您正在分析的内容以

　　PHASCOPE PMP10手持式电镀镀层测厚仪非常适合测量PCB板上镀铜厚度使用手持式测厚仪，如PHASCOPE®PMP10，可以简单地测量电镀镀层，甚至是小镀锌部件，如螺母、螺栓和螺钉。通用且易于使用，它还可以确定有色金属镀层的厚度，例如JUE缘基板如PCB板上镀铜，铁上镀镍，铁上镀锌或镀铜，黄铜或青铜上镀铜。PHASCOPE PMP10有几个特点，可以节省您的时间，并可以提高电镀质保过程的质量。当与ESD2.4探头配对时，它允许您快速测量小部件上的镀层，因为通常不需要对测量点的特定几

　　BINDER电池测试箱产品描述：BINDER 的电池测试箱特别适合在电池的质量力求或者方面进行老化、性能和压力测试。LIT MK 系列的所有箱体均标配一套探测装置和灭火装置。 BINDER电池测试箱主要特点示例：温度范围：-40 C 至 +110 C○当温度设定为120C时，立可调的温度装置等级2启动 的设定温度○可逆式不锈钢泄压伐安装在设备顶部中央○增强型箱门锁紧装置○监控测试区域大气中的 CO、H2、O2 含量○用于惰性化处理的装置○CO2灭火装置○APT.line™ 内腔预热技术○样品的可编程冷凝保

　　对比以往X射线荧光光谱仪, Bruker微区XRF能够更多的展现样品中的元素信息。M4 TORNADO PLUS 具有超轻元素探测器，是能够测量 6 号元素（C）以上元素的微区 XRF 成像光谱仪。此外，所有轻元素的检测灵敏度都有所提高。在该仪器上，Bruker引入了AMS系统，该系统可有效增强多导毛细管的聚焦深度，从而对不均匀样品进行更为清晰的元素成像。可选的第二个 X 射线源进一步扩展了设备的分析功能，支持从 0.5 mm 到 4.5 mm四个可选光斑尺寸。更轻，更快，更深。M4 TORNADO 系列

　　热脱附质谱仪HM1000A邻苯二甲酸酯筛选装置用于邻苯二甲酸酯筛选的 HM1000A 热脱附质谱仪，将帮助您生产出符合 RoHS 2.0 指令的产品。HM1000A 采用 APCI（大气压化学电离）和质谱技术，快速而低成本地测定样品中邻苯二甲酸酯的总量。如果总量超过 RoHS 2.0 规定的数值，则可以使用更精准的方式进一步分析。HM1000A 筛选出的达标样品不需要进一步分析，有助于减少精准分析所耗费的大量时间和成本。热脱附质谱仪HM1000A邻苯二甲酸酯筛选装置优势：单个试样 10 分钟内测完HM10

　　FISCHERSCOPE X-RAY XDV- SEMI晶圆微结构的自动测量系统FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μSEMI专为半导体行业中的质量控制而设计，可全自动JQ测量晶片上的微结构。 整个自动化装置是封闭的，非常适合在洁净室使用。 FOUP和SMIF吊舱可以自动对接至测量系统。 XDV-μ SEMI内部的处理和测量无需人工干预。 通过模式识别功能，X-RAY 可以JQ可靠地定位到指定的测量位置。 这种自动测量过程排除了手工处理造成的损坏和污染，并确保

　　FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是一款用户友好的XRF台式仪器，用于镀层厚度测量和材料分析。它的特点是紧凑，实用的设计，但仍包含了符合预期的精密XRF测量部件。 测量薄镀层(≤ 0.1）μm，精Q、快速、无损。此外，对具有复杂成分或低浓度的XRF分析也能轻松实现。由于DCM（距离控制测量）方法，即使是复杂几何形状样品的镀层厚度测量和材料分析也非常简单。菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600特征：▷XRF测试仪器符

　　FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列印制电路板测量专用系列当今的印刷电路板具有大量的镀层触点。为了保证焊接接头的可靠性，耐腐蚀性和保用期，各种材料的相应厚度必须正确对应。为了管控这些严格的规格，能量色散X射线荧光是较佳方法。Fischer专门开发的X射线荧光仪器满足PCB制造商的要求：它们不仅快速，易于使用，而且所有设备都空间宽敞，可以容纳Z大610 x 610mm的PCB；（1）、FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB X射线荧光分析仪FISCHERSCOPE&reg