FPD/LSI检查显微镜 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的较理想选择。主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查，如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留，检查有机EL显示屏。平板显示器/大规模集成电路（FPD/LSI）检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N特点：•尼康CFI60-2光学系统尼康的光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、

　　Qeye 800可实现对试样快捷、高分辨率的分析和测量。 特别适用于依据DIN EN ISO 5817对标准焊缝进行测量和检测。测量工具，比如尺寸, 熔深，评估限值和符合标准的检测报告都以标配的形式包含在备受推崇、用户友好的Qpix Control2 软件中。 集成的曲线模板模式，带有预定义的测量元素和QATM标准目录以及客户定制模板的管理。Qeye节省时间，以高精度提供详细的分析和测量。采用坚固的现代工业设计，易于更换的样品载玻片。由于在洁净室中组装而具有对尘密性。QATM倒置显微镜QEYE 800技术

　　蔡司材料显微镜Axio Imager Vario简介：用于检测大尺寸样品的蔡司正置式显微镜Axio Imager Vario检查大尺寸样品–满足自动化洁净室的要求从尺寸小的MEMS传感器到大尺寸晶圆，甚至整个平板显示器，检测期间不会对样品造成破坏。Axio Imager Vario支持的大样品高度为254 mm，大横向样品空间为300 mm，拓展了可以测试的样品范围。机柱设计确保了良好的稳定性。可满足在洁净室内检测晶圆的应用要求。利用驱动Z轴的电动马达与自动聚焦硬件确保自动调整至聚焦位置。洁净室半导体生产

　　半导体与平板显示器检测显微镜MX63/MX63L简介：奥林巴斯MX显微镜的设计理念是为客户提供更高的操作效率。MX显微镜为用户确保了四个等级的：快速入门、简易操作、失败分析和扩展功能。MX63/MX63L让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅MX63和MX63L显微镜系统经过优化，适用于Z大尺寸300 mm的晶圆、平板显示器、电路板以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计使您能够选择需要的组件，获得根据应用定制的系统。这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时，保持检测员的工作舒