promex BASIC FAST是实验室测量的入门级产品。由于配备了数码相机和远心镜头，该系统能保证快速测量。这种即插即用的解决方案与计算机相连后即可进行测量。通过使用翻转功能，可以通过手动翻转试样来测量更大的断面。试样制备要求:无毛刺、扁平和矩形。其他优势/特点:用于生产环境或实验室的高性价比型材断面测量系统测量周期只需3-5秒可连接笔记本电脑所有测量结果均可进行数据记录，将来可进行历史分析 虚拟量规对齐promex ADVANCED FAST是面向实验室测量或直接在挤出线现场进行测量的组合解决方案。

　　ET200A基于Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半 导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200A 能可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET200A配备了多种型号探针，提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头，彩色CCD 原位采集设计，可直接观察到探针工作时的状态，更方便准确的定