全电动数码显微镜DSX2000DSX2000全电动数码显微镜通过智能工具、一体化成像和可定制的界面，为研究人员和质控实验室专业人员简化了任务、提高了工作效率，优化了工作流程。配备了PRECiV软件的DSX2000显微镜可助力您的团队快速获得精准的结果，捕捉超过4K分辨率的出色图像。它提供直观、无缝的体验，让各种 技能水平的用户都能轻松、自信地 操作。▲通过一体化解决方案简化操作DSX2000数码显微镜采用光学变焦，提供26X–7300X的宽放大倍率范围，可使用同一个系统完成宏观和微观检测，从而让您腾出时间

　　这一系列的偏光显微镜通过观察图像对比度和颜色变化，来观察各向异性样本的双折射特性。尼康为定量和定性研究提供各种系统。CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察，也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件，可应对多种偏光研究需求；Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。尼康偏光显微镜ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL特点：•透射和反射照明LV-UEPI-N为反射照明器，用于为反射偏光提供照明。Ci-POL搭载LV-UEPI-N使用时，需要外

　　这是一款结构紧凑、操作简便灵活、且性价比很高的常规金相检查用倒置显微镜，它采用反射照明，可搭配数码相机，广泛应用于金相组织的检测。尼康NIKON倒置金相显微镜 ECLIPSE MA100N特点：•尼康CFI60-2光学系统尼康的CFI60-2 TU Plan EPI系列物镜具有工作距离长、消色差效果好的优点。•LED照明，机身紧凑采用专用LED照明器，照明均匀且明亮、使用寿命长、省电。MA100N结构紧凑、占地面积小。•多种配件孔径光阑为标配。MA100N的摄影端口，可接尼康的Digital Sight相

　　采用箱体型外观、模块化设计、反射照明的研究用倒置金相显微镜，支持多种镜检方式，可搭配数码相机，广泛应用于材料研究。NIKON尼康倒置金相显微镜ECLIPSE MA200特点：•多种镜检方式反射照明。可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）和微分干涉（DIC）。•多种配件有多种配件可供用户选择。灯室、载物台、物镜、物镜转换器、目镜、目镜筒、数码相机、滤光片和偏振片等各种配件。•数字化智能通信使用带有传感器的物镜转换器，通过尼康显微镜用图像处理软件，MA200可以检查当前在用物镜，自动完成倍率校正。尼康

　　同时配有反射照明和透射照明，有多种镜检方式可选，可搭配数码相机，并有多种附件可选，可应对多种工业品、工业材料的检查与研究需求。尼康显微镜ECLIPSE LV100NDA和LV100ND特点：•多种镜检方式反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。•多种配件有多种配件可供用户选择。载物台、物镜、物镜转换器、目镜、目镜筒、数码相机、滤光片和偏光片等。•数字化智能通信LV10

　　工业显微镜 ECLIPSE LV150NA和LV150N （纯反射型）这一系列半导体显微镜采用纯反射照明，支持的镜检方式有：明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉，可搭载数码相机，常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N主要用于半导体、工业材料和零部件检查，以及产品研发。NIKON尼康工业显微镜ECLIPSE LV150NA和LV150N特点：•多种镜检方式反射照明。可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）和微分干涉（DIC）、荧光和双光束干

　　三目倒置金相显微镜WY-C简介：WY-C使用专业的金相物镜及平场目镜，成像质量好，分辨率高，观察舒适，提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构。三目倒置金相显微镜WY-C可选配相应的摄影摄像附件，可对观察图像进行采集和保存，配电脑和专业金相分析软件图像进行金相图像分析。WY-C倒置金相显微镜操作简便，可广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地质矿物分析、精密工程测量等领域。三目倒置金相显微镜WY-C规格：光学系统有限远色差校正系统观察筒铰链式三目，45倾斜，双边5屈光度可调，瞳距调节范围：54-75

　　倒置金相显微镜WY-E特点：采用无限远色差校正光学系统（CSIS），像质更好，分辨率更高，观察更舒适。提供高眼点、超宽视野平场目镜，PL10x/22mm，提供更加宽阔平坦的观察空间并可加装用于测量的各类测微尺，无限远平场消色差超长工作距专业金相物镜，无盖玻片设计。搭配铰链式三目，视度可调节，45倾斜，可进行摄影摄像，对观察图像进行采集和保存，配置电脑和专业软件实现图像分析。采用低手位粗微调同轴调焦机构，带有粗调松紧调节装置，粗调每转行程38mm，微调精度0.002mm。自带可变光阑和中心可调视场光阑的反射

　　研究级蔡司材料显微镜Axio Imager 2蔡司显微镜Axio Imager 2用于材料样品的显微分析和表征，如金相试样自动分析，高分子样品的质量控制，地质样品的偏光分析，由于其较优的光学质量和强大的功能，是实验室分析和工业研发必不可少的研究型解决方案。操作简便的显微分析工作流程——正置显微镜Axio Imager 2可为质量控制和流程控制提供准确和可重复的结果。正置显微镜Axio Imager 2具有良好的光学性能和均匀的照明。衬度管理器和光强管理器始终确保定义的条件和可重现的结果。使用ACR自动检测

　　用于材料研究的蔡司正置显微镜AxioscopeAxioscope是专为满足材料实验室常见的光学成像要求而设计的正置材料显微镜。如果您需要光学显微镜来进行材料和金相分析，同时您的常规检查任务对可用性、重现性和自动化提出了很高的要求，那么Axioscope是您较佳的选择。用于材料研究的蔡司正置显微镜Axioscope特点：高性能、高性价比它具有较优的可用性和自动化功能，是要求日常任务的较LX选择。相比起更XJ的光学显微镜，它兼顾强大的性能与经济的价格。可靠的结果使用带编码的组件和较XJ的光学技术，Axiosc

　　用于材料研究的蔡司倒置显微镜Axio Vert.A1Axio Vert.A1 可以使用多样的观察方式检测大而重的样品。可轻松在明场、暗场、DIC、C-DIC、荧光和反射偏光等观察方式之间切换。在透射光观察中，可使用明场、偏光和相差。或者将几种观察方式结合起来以获取更多的附加信息。5 位编码型物镜转盘能够自动识别物镜改变。通过光路管理器调节光强。现在，您可以量化结构信息，评估材料特性和质量。获取有价值的新信息，以及优化制备或生产流程。然后采取相应措施。用于材料研究的蔡司倒置显微镜Axio Vert.A1特点

　　用于材料研究的蔡司倒置显微镜Axio Observer用于材料检验、和分析的倒置显微镜。 根据您对编码或电动组件的需求，在三种主机及模块化性能增强组件中进行选择. lAxio Observer 3 materials编码物镜转盘，光管理器，CAN 和 USB 接口可读出放大倍率。lAxio Observer 5 materials几乎所有组件能够被识别，或实现全电动。lAxio Observer 7 materials电动 z 轴聚焦，全自动组件识别功能可对物镜和滤色片的设置进行识别，触摸屏显示，以及可选