电解测厚仪也称库伦测厚。上海铸金分析仪器有限公司可供应多种型号的电解镀层厚度测量仪。多功能电解测厚仪是结合国内外技术的金属镀层电解测厚仪，具有结构先进，性能稳定可靠，功能齐全的特点，使用本仪器可以保障用户单位的产品质量，防止原材料的能源的浪费，利用本仪器还可以帮助用户找到适合不同要求的最佳电镀工艺，是有关成品厂及电镀厂适用的仪器。符合标准：GB/T4955-2005VS02177：2003；测量原理：仪器根据 DIN EN ISO 2177 标准的库仑法。金属或非金属基材上的金属镀层，通过在控制电流条件下

　　日立XRF镀层测厚仪简介：日立用于测量镀层厚度和成分分析的台式XRF分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术，可提供准确和精Q的结果，坚固耐用，可以应对生产或实验室环境中的持续使用。无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征，还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量，日立XRF镀层分析仪都能应对这些挑战，帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂，部件越来越小，日立的产品系列旨在应对未来的挑战，为您

　　FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射线荧光光谱仪进入自动化测量世界FISCHERSCOPE®X-射线 XDL®和XDLM®光谱仪与 XUL 系列密切相关。主要组件（例如探测器，X射线管和滤波器组合）是相同的，但两者有一个区别：XDL和XDLM设备是从上到下进行测量，这意味着可以方便地分析非平面样品-复杂形状不再是难题！自上而下的测试方式还有另一个优点：可以很容易地实现自动测量。 XDL240和XDLM237配备了可编程的样品台，

　　该仪器通过光谱反射原理来测量涂层厚度，可以测量涂层或薄膜的膜厚，基本所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量，适用于具有透光性的氧化物、氮化物、光刻胶、聚合物、半导体薄膜、硬质涂层、聚合物薄膜和涂层等材质。可靠性高、可追溯性高、重复性好，易于使用。光学膜厚仪FT-100测量原理：从薄膜界面及基体界面反射的光束之间的光学相位差，光束之间的干涉将相位差转换为光学强度谱，光谱包含着膜厚信息。光学膜厚仪FT-100典型应用：太阳能电池：TCO、CIG、CdS、CdTe；液晶显示：LCD, FPD，ITO和

　　Z-Mike Pro激光测径仪帮助机械车间提供满足日益严格公差的精密零件。 全球有过 15,000 个 应用依靠 Z-Mike 的 0.5 m 精度和 0.13 m 重复性来帮助他们提供客户所需的产品。 无论是在实验室还是在工厂车间，Z-Mike Pro 都能提供有关零件的较真实信息。使用此款激光测微计，可以放心地测量柔软、精致、易碎、热甚至放射性的部件，即凸轮轴、曲轴、切削刀具毛坯和医疗部件。 测量能力包括直径、椭圆度、有效切割直径、锥度和 TIR。

　　金属表面油膜厚度测试仪|INFRALYTIC红外油膜测厚仪NG2简介：作为德国一家中型公司，INFRALYTIC提供针对不寻常或严苛环境下的高质量计量C新和解决方案。INFRALYTIC开发和生产高精度传感器，用于无接触、非破坏性和快速化合物识别和定量，尤其适用基于红外光谱学下的光学科技。INFRALYTIC冰传感器能够检测风力涡轮机转子，道路上，结构上以及空调系统中的结冰程度。INFRALYTIC的油膜测量仪确定金属板上的油层厚度。INFRALYTIC的IOS NG代油膜计量器早已成为钣金生产和加工行业