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多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus AFM100 系统

所属系列:ZJYQ-GYXWSPM-HITACHI

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产品描述

AFM作为一种扫描探针显微镜(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直径为数纳米(1纳米:百万分之一毫米)的尖锐探针扫描样品表面,可同时实现纳米级别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。AFM已广泛应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。

AFM100/100Plus,非专业人员都能轻松且稳定地获取可靠数据,从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。特别是AFM100 Plus,其用途十分广泛,可用于从观察石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料,到超过0.1 mm的大范围3D形貌观察、粗糙度分析、物性评估等领域。

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