微涂层测厚仪AM-112-200F产品描述:微型涂层测厚仪分为两个类型:F型、NF型。F型用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层厚度;N型用涡流传感器测量非导磁金属基体上的绝缘覆盖层厚度。 专用于微小工件上的涂层测量。 它采用计算机技术,无损检测技术等多项先进技术,无需损伤被测体就能准确地测量出它的厚度。并且带有RS-232C数据连接线、USB数据连接和蓝牙传输功能。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。微涂层测厚仪AM-112-200F产品特点:* 铁基涂层测厚仪。*