X荧光分析是一种比较性的分析方法,所有需要对照校准曲线进行测量的未知样品,应该具有和绘制校准曲线所用的标准样品,一样的密度分布。即进行XRF分析的前提要求是,样品压片的压力及压片过程一致。上海铸金分析仪器有限公司本页面展示的压样机是适合于XRF的制样设备。压样机的选择自动压样机中有压力传感器,和自动液压系统,采用可编程控制器(PLC)精确控制。自动压样机按照PLC程序,和压力传感器传来的信号,精Q控制压样机运行,并且时时显示压样机工作状态;在PLC上选择压样方式后,只需按一下启动键,即可自动完成压样、保压