工业CT德国Werth进口x射线断层扫描仪

所属系列：ZJYQ-HYYQJS-Dantsin

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产品描述

自2005年以来，Werth大量不同类型的设备为具有广泛尺寸和材料的工件提供了计量解决方案。这些设备被用来确定几何特性，并检查裂缝和空洞，例如。在相对较短的时间内测量许多维度是计算机断层扫描的之一。快速的初始采样，从而快速的产品验证，降低了工艺成本。强大的软件和硬件解决方案还允许CT设备用于高通量过程监测。
1、TomoScope® XS FOV
用于小型工件的工业计算机断层扫描 (CT) 入门级设备
在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于和测量室。
TomoScope® XS FOV是一个灵活和易于使用的设备，用于工业计算机断层扫描的快速测量。三维测量直接在探测器的视场内进行，不需要移动轴，可以完全自动化。几个小工件，如盖子或镙丝，可以用合适的夹具一起测量。TomoScope® XS FOV是在大量的塑料工件的过程中进行测量的选择。
更多
采用单体设计的免维护管道，可用性高
24 个月质保，管子无移位限制
带空气轴承的高精度旋转轴，测量不确定性低
设计紧凑，占用空间小
重量轻，几乎可在任何地方安装
购置成本低，摊销速度快
OnTheFly 实时断层扫描和重建实现快速测量
符合VDI 2617 标准的校准可提供可靠、可溯源的测量结果，还可选配DAkkS 证书
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 120 mm / L = 93 mm（取决于工件的长宽比）。
精度
允许长度测量偏差不过 5 µm

2、TomoScope® XS FOV 500
适用于小型工件的高性能工业计算机断层扫描 (CT) 入门级设备
在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于和测量室。
TomoScope® XS FOV是一个灵活和易于使用的设备，用于工业计算机断层扫描的快速测量。三维测量在探测器的视场内进行，不需要移动轴，可以完全自动化。高性能的X射线管可以优化测量时间，特别是在使用光束硬化过滤器时。几个小工件，如盖子或镙丝，可以用合适的夹具一起测量。也可以测量小型金属部件，如牙科植入物、轻型金属工件或门铰链。
进一步的
也适用于内联应用
由于单体设计中的免维护管，可用性高
24个月的保修期，不受管子移位的限制
带空气轴承的高精度旋转轴，测量不确定度低
由于设计紧凑，空间要求低
由于其重量较轻，几乎可以在任何地方设置。
由于收购成本低而快速摊销
实时的OnTheFly断层扫描和重建实现了快速测量
根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书
技术数据
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D=280 mm / L=112 mm（取决于工件的长宽比）。
精度
允许长度测量偏差不过 5 µm

3、TomoScope® XS
用于小型工件高精度测量的工业计算机断层扫描 (CT) 入门级设备
在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于和测量室。
由于透射管– ，次采用单体设计– ，即使在高管功率下也能实现小焦距，因此可以进行高分辨率的快速测量。管子、发生器和真空发生器的单体设计次在开放式结构中得到实现。这导致了较长的维护间隔和理论上无限的服务寿命。应用范围包括3D测量，例如连接器、塑料外壳和盖子、3D打印工件、包装、PET瓶和预制件。TomoScope® XS还可用于工具校正。根据对工件的测量结果，可以检查工具的功能和磨损情况。例如，检查工件是否有刀具崩裂和毛刺形成的迹象。
进一步的
TomoScope® XS特地结合了不同类别的设备
该X射线源结合了封闭式和开放式微聚焦X射线管的优点
停机时间和运营成本降到低
由于收购成本低而快速摊销
OnTheFly断层成像和实时重建实现了快速测量
面向未来的概念提供了在安装现场将X射线电压和功率分别简单升级到160千伏和高达80瓦的可能性。
根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 277 mm / L = 149 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的长度测量偏差达4,5 µm

4、TomoScope® XS Plus
用于测量中型工件的工业计算机断层扫描 (CT)

在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于和测量室。
TomoScope® XS Plus能够以高分辨率或缩短测量时间来测量较大的工件和较小的物体。在所有坐标轴上具有几乎任何可调分辨率的完整工件体积（高达600亿体素）可作为测量结果。应用包括3D测量，例如连接器、塑料外壳和盖子、3D打印工件、包装、PET瓶和预制件。
进一步的
传输管– ，次采用单体设计– ，即使在高管功率下也能实现小焦斑，因此可以进行高分辨率的快速测量
该X射线源结合了封闭式和开放式微聚焦X射线管的优点
停机时间和运营成本降到低
与传统的坐标测量机一样，整个机器的维护周期只有一年
OnTheFly断层扫描和实时重建允许快速测量
根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 289 mm / L = 456 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的长度测量偏差达4,5 µm

5、TomoScope® XS Plus 200
用于测量中型工件的高电压工业计算机断层扫描 (CT)

在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于和测量室。
TomoScope® XS Plus具有特的小尺寸和重量与大测量量的比例，能够测量较大的工件或在传统的多传感器坐标测量机的价格水平上，以高分辨率或减少测量时间测量小物体。在所有坐标轴上几乎可任意调节分辨率的完整工件体积（高达600亿体素）可作为测量结果。在200千伏的X射线电压下，例如连接器、传感器组件、关节植入物和移动电话的镜头可以被测量。
更多
由于次采用了单体设计的透射管– – ，即使在透射管功率较高的情况下也能实现较小的焦斑，因此可以进行高分辨率的快速测量
该 X 射线源结合了封闭式和开放式微焦 X 射线管的优点
与传统坐标测量机一样，使用寿命长，停机时间短，维护周期为一年
局部次伏击，减少探测偏差
OnTheFly 实时断层扫描和重建实现快速测量
多目标测量使测量时间缩短至几秒钟
采用标准化测量软件，从射线图像到体积和测量点云，再到可选刀具校正，实现测量结果的可追溯性
符合辐射防护条例的全防护装置设计
符合标准的规格和校准，符合VDI 2617 ，可选DAkkS 证书
通过机器人加载和与大多数软件解决方案的接口，可实现完全自动化和集成化
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D=289 mm / L=456 mm（取决于工件的长宽比）。
精度
允许的探测偏差达 4.5 µm

6、TomoScope® S
用于测量大型工件的工业计算机断层扫描 (CT)

用于和测量室的X射线断层扫描的高分辨率测量
Werth TomoScope® S具有同类产品中高的精度和紧凑的外部尺寸。凭借其大的测量范围和高管电压，甚至可以测量大型物体。可用的带透射靶的X射线管即使在高管功率下也能提供非常小的焦距，因此在高测量速度下具有高分辨率。应用的领域是高密度的工件（铝、钢、钛、弹性体、混合塑料（如玻璃纤维增强）、陶瓷、多种材料（如连接器）、组件）。
更多
光学工件定位辅助工具，便于对被测物进行定位
由于亚灸的准确性和高密度的测量点，这种技术也非常适合用于注塑模具的校正。
所有的TomoScope®设备在设计和结构上都符合《辐射防护条例》规定的完全防护设备。
工件更换系统可以集成到机器外壳中，计算机断层扫描坐标测量机也可以在夜间和周末连续自动使用。
高精度的三维测量，即使是在或进货的时候，由于可选择的主动装置空调，也可以进行高精度的测量
根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书
技术数据
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的3D数控多传感器坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸 D = 500 mm / L = 686 mm (取决于工件的长宽比)
准确度
允许的长度测量偏差达4,5 µm

7、TomoScope® L

用X射线断层扫描技术对业和测量室进行高分辨率的测量
TomoScope® L适用于密度较大的大型工件的三维测量，如铝、钢、钛、复合材料、陶瓷和玻璃纤维增强塑料，其特点是具有前瞻性的模块化。不同的扩展阶段允许佳地适应各自的要求。使用断层扫描的完整测量可以通过在一个夹具和一个坐标系中使用高精度传感器进行功能尺寸的额外测量来补充。
其他
X 射线管与探测器之间的距离大，可在锥角较小的情况下进行准确测量
光学工件定位辅助装置，便于定位测量对象
由于亚伏X射线工艺可实现的精度和高测量点密度，该技术也是注塑模具校正的选择
所有 TomoScope® 设备的设计和构造均符合辐射防护条例的防护装置要求
工件更换系统可集成到设备外壳中，计算机断层扫描坐标测量机也可在夜间和周末连续自动使用
通过可选的主动式设备气候控制，即使在或进货时也能进行高精度 3D 测量
符合VDI 2617 标准的校准可获得可靠、可溯源的测量结果，可选配DAkkS 证书
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 470 mm / L = 678 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的长度测量偏差达4,5 µm

8、TomoScope® XL
用于测量大型工件的工业计算机断层扫描 (CT)
用X射线断层扫描技术对和测量室进行高分辨率的测量。
TomoScope® XL也可用于更大规模的大型工件的测量和检测任务。为了扩大应用范围，在这种带有X射线断层扫描的多传感器坐标测量机中，可以在自动转换中使用第二个X射线源，例如，以高分辨率额外测量更小的部件。应用领域是具有高密度的工件（铝、钢、钛、弹性体、混合塑料、2K、陶瓷、多种材料（如连接器）、装配、玻璃纤维增强塑料）。
更多
X射线管和检测器之间的距离大，可在小锥角下进行准确测量
光学工件定位辅助工具，便于对被测物进行定位
由于亚灸的精度和高密度的测量点，该技术也非常适合用于注塑模具的校正。
所有的TomoScope®设备在设计和结构上都符合《辐射防护条例》规定的完全防护设备。
工件更换系统可以集成到机器外壳中，计算机断层扫描坐标测量机也可以在夜间和周末连续自动使用。
高精度的三维测量，即使是在或进货的情况下，由于可选择的主动装置空调，也可以进行高精度的测量
根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 530 mm / L = 725 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的长度测量偏差达4,5 µm

9、TomoScope® XL NC
用于测量大型工件的工业计算机断层扫描（CT）

用X射线断层扫描技术对和测量室进行高分辨率的测量。
由于管电压为450 kV，TomoScope® XL NC也适用于大规模、大型工件的测量和检测任务。为了扩大应用范围，在这种带有X射线断层扫描（CT）的多传感器坐标测量机中，可以在自动转换中使用第二个X射线源，例如，以高分辨率额外测量较小的部件。应用领域包括铸件（发动机组、气缸盖）和陶瓷工件的三维测量。
更多
X射线管和检测器之间的距离大，可在小锥角下进行准确测量
光学工件定位辅助工具，便于被测物的定位
与辐射防护室（选项）相结合，在设计和结构上与X射线条例规定的防护装置相一致
由于亚灸过程可达到的精度和高密度的测量点，该技术也非常适合用于注塑模具的校正。
可以集成工件更换系统，计算机断层扫描三坐标测量机也可以在夜间和周末连续自动使用。
根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书
技术数据
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 500 mm / L = 1010 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的长度测量偏差达4,5 µm

10、TomoCheck® S HA
用于大型工件高精度测量的工业计算机断层扫描（CT）

用X射线断层扫描技术进行高分辨率的测量
通过结合具有225 kV加速电压的传输管和大型、高分辨率的探测器，TomoCheck ® S HA（高精度）能够以高分辨率和高精度对多材料组件和大体积工件进行三维测量。花岗岩的计算机断层扫描坐标测量机的基本设计、高精度的机器机械和空气轴承技术使长度测量的偏差在亚微米范围内。应用的领域是微型部件以及由塑料、轻金属和石墨制成的工件。
更多
通过工艺将 X 射线传感器的探测偏差小化
采用钻石靶管和高像素探测器，可实现 1/10 µm 范围内的分辨率
TomoCheck® S HA 的设计和结构符合《辐射防护条例》规定的全防护装置要求。
可为特定应用加装额外的传感器
根据VDI 2617 进行符合标准的校准，以获得可靠、可追溯的测量结果，还可选配DAkkS 证书
技术数据
类型
带计算机断层扫描传感器的高精度三维数控三坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 204 mm / L = 434 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的长度测量偏差高为2,5 µm

11、TomoScope® S FQ
工业计算机断层扫描(CT)对大型工件的快速测量结果

用X射线断层扫描技术进行在线应用的高分辨测量。
TomoScope® FQ系列仪器可以将测量点云的计算和评估速度加快50倍。对于阀块、壳体和铸件等工件，几乎每半分钟就会确定一次几何特性，与主件的测量点云进行目标/实际比较，并检查工件的缺陷，如毛刺。WinWerth® Scout测量软件为正在运行和已经完成的测量过程提供了清晰的状态显示，点击鼠标就可以获得所有的测量结果。
进一步的
所有TomoScope®测量仪器都有 "FQ "版本
免维护封闭式高性能X射线管，用于快速测量高密度材料和大型工件
集成快门，避免了耗时的开关管，延长了使用寿命
用于高性能测量的检测器，在OnTheFly模式下可快速获取图像
用机器人通过前门或上料口送入工件
离线工作站的远程编程
开始测量过程，例如通过二维码或RFID芯片，这样就可以清楚地识别工件和批次。
计算机断层扫描和多传感器坐标测量机之间的任务共享
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 260 mm / L = 393 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的探测偏差达4,5 µm

12、TomoScope® L FQ
工业计算机断层扫描（CT）在非常大的工件上获得快速测量结果

用X射线断层扫描技术进行在线应用的高分辨测量。
TomoScope® FQ系列仪器可以将测量点云的计算和评估速度加快50倍。对于阀块、壳体和铸件等工件，几乎每半分钟就可以确定一次几何特性，可以与主件的测量点云进行目标/实际比较，还可以检查工件的缺陷，如毛刺。WinWerth® Scout测量软件为正在运行和已经完成的测量过程提供了清晰的状态显示，点击鼠标就可以获得所有的测量结果。
进一步的
所有TomoScope®测量仪器都有 "FQ "版本
免维护封闭式高性能X射线管，用于快速测量高密度材料和大型工件
集成快门，避免了耗费时间的开关管，延长了使用寿命
用于高性能测量的检测器，在OnTheFly模式下可快速获取图像
用机器人通过前门或上料口送入工件
离线工作站的远程编程
开始测量过程，例如通过二维码或RFID芯片，这样就可以清楚地识别工件和批次。
计算机断层扫描和多传感器坐标测量机之间的任务共享
技术数据：
类型
采用计算机断层扫描传感器技术的三维数控坐标测量机
测量范围
大。工件尺寸D = 470 mm / L = 678 mm（取决于工件的长宽比）。
准确度
允许的探测偏差达4,5 µm

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