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奥林巴斯显微镜GX53

所属系列:ZJYQ-JXFXXWJ-OLYMPUS

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产品描述

奥林巴斯显微镜GX53倒立式金相显微镜概述:

l快速分析较厚的大尺寸样品材料

专为钢铁、汽车、电子和其他制造行业设计的GX53显微镜能够提供传统显微镜观察方法难以获得的清晰图像。将该显微镜与PRECiV图像分析软件配合使用时,从观察到图像分析和报告的整个检测流程都将变得更加顺畅。


l快速检测

快速观察、测量和分析金相结构。

l分析工具

1.采用组合观察方法获得更出色图像


2.轻松生成全景图像


3.生成全聚焦图像


4.采集明亮区域和暗光区域


l专为材料科学而优化

1.专为材料科学而设计的软件


2.符合行业标准要求的金相分析


l人性化

即使是新手操作员也可以轻松完成样品观察、结果分析和报告创建。

1.轻松恢复显微镜设置


2.用户指导让分析变得更加简单


3.生成报告


l成像技术

成熟可靠的光学和成像技术可提供清晰的图像和可靠的结果。


1.可靠的光学性能:波前像差控制

2.清晰的图像:图像阴影校正

3.一致的色温:高强度白光LED照明

4.测量:自动校准

l模块化

根据您的应用要求选择所需的组件。


1. 打造专属于您的系统:利用各种可选组件获得定制的系统

奥林巴斯显微镜GX53倒立式金相显微镜观察:

GX53显微镜的各种观察功能可提供清晰、锐利的图像,让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。PRECiV图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为样品评估和结果记录提供更多选择。

高数值孔径和长工作距离相结合:

物镜对显微镜的性能至关重要。新的MXPLFLN物镜通过同时实现数值孔径和工作距离更大化,为MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍时,分辨率越高,通常意味着工作距离越短,这会迫使样品或物镜在物镜交换过程中缩回。在许多情况下,MXPLFLN系列的3 mm工作距离消除了这一问题,使检查速度更快,物镜碰到样品的可能性更小。


从不可见到可见:MIX技术

MIX技术将暗场与另一种观察方法(例如明场或偏振)相结合,使您能够查看传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器具有定向暗场功能,可在指定时间照射一个或多个象限,减少样品的光晕,以便更好地观察表面纹理。


轻松生成全景图像:即时MIA

使用多图像拼接(MIA)功能时,只需转动手动载物台上的XY旋钮即可轻松完成图像拼接 — 电动载物台为可选件。PRECiV软件采用模式识别生成全景图像,非常适合检查渗碳和金属流动情况。


生成全聚焦图像:EFI

PRECiV软件的景深扩展(EFI)功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI可将这些图像堆叠在一起,生成样品的单幅全聚焦图像。即使分析表面不平整的横截面样品时,EFI也能创建全聚焦图像。

EFI配合手动或电动Z轴聚焦装置,可生成高度图像,对结构进行可视化观察。


利用HDR同时采集明亮区域和暗光区域

采用XJ图像处理技术的高动态范围(HDR)可调整图像内的亮度差异,从而减少眩光。该功能还有助于增强低对比度图像的对比度。HDR可用于观察电子器件中的微小结构并识别金属晶界。


奥林巴斯显微镜GX53倒立式金相显微镜分析:
颗粒分析 — 计数和测量解决方案

计数和测量解决方案采用阈值法,能够可靠地分离目标(如颗粒和划痕)与背景。可使用超过50种不同的参数对样品进行测量或评级,包括形状、大小、位置和像素特性等。


微观结构中的晶粒尺寸

测量晶粒尺寸并分析铝、钢晶体结构(例如铁素体和奥氏体)以及其他金属的微观结构。

支持的标准:ISOGOSTASTMDINJISGB/T


评估石墨球化率

评估铸铁样品(球墨和蠕墨)的石墨球化率和含量。对石墨节点的形态、分布和大小归类。

支持的标准:ISONFASTMKSJISGB/T


高纯度钢中非金属夹杂物含量的评定

对在恶劣视场采集图像中的非金属夹杂物或手动发现的恶劣夹杂物进行分类。

支持的标准:ISOENASTMDINJISGB/TUNI


比较样品图像和参考图像

可轻松比较实时或静态图像与自动缩放的参考图像。该解决方案包含符合各种标准的参考图像(也可单独购买更多的参考图像)。支持多种模式,包括实时叠加显示和并排比较。

支持的标准:ISOENASTMDINSEP


奥林巴斯显微镜GX53倒立式金相显微镜材料解决方案规格:

解决方案

支持标准

晶粒度截点法

ISO 643: 2012JIS G 0551: 2013JIS G 0552: 1998ASTM E112: 2013DIN 50601: 1985GOST 5639: 1982GB/T 6394: 2002

晶粒度面积法

ISO 643: 2012JIS G 0551: 2013JIS G 0552: 1998ASTM E112: 2013DIN 50601: 1985GOST 5639: 1982GB/T 6394: 2002

铸铁

ISO 945-1: 2010ISO 16112: 2017JIS G 5502: 2001JIS G 5505: 2013ASTM A247: 16aASTM E2567: 16aNF A04-197: 2004GB/T 9441: 2009KS D 4302: 2006

夹杂物恶劣视场

ISO 4967(方法A: 2013JIS G 0555(方法A: 2003ASTM E45(方法A: 2013EN 10247(方法PM: 2007DIN 50602(方法M: 1985GB/T 10561(方法A: 2005UNI 3244(方法M: 1980

标准评级图对比

ISO 643: 1983ISO 643: 2012ISO 945: 2008ASTM E 112: 2004EN 10247: 2007DIN 50602: 1985SEP 4505: 1978SEP 1572: 1971SEP 1520: 1998

测量涂层厚度

EN 1071: 2002VDI 3824: 2001


奥林巴斯显微镜GX53倒立式金相显微镜技术规格:

光学系统

UIS2光学系统(无限远校正)

显微镜镜架

反射光照明

通过反射镜单元手动选择明场/暗场
带调中功能的手动视场光阑/孔径光阑切换
光源:白光LED(带光强度控制器)/12 V100 W卤素灯/100 W汞灯/光导
观察模式:明场、暗场、微分干涉对比度(DIC*1、简易偏振光*1MIX观察(4个定向暗场)*2
*1
该观察方法需要使用专用插片。*2 需要使用MIX观察配置。

标尺压印

所有端口的位置(上/下)与通过目镜看到的观察位置相反

前端口输出(可选)

相机和DP系统(倒像,GX专用相机适配器)

侧端口输出(可选)

相机,DP系统(正像)

电气系统

反射光照明
用于反射光照明的内置LED电源
连续可变光强度控制盘
输入额定值5 V DC2.5 A(交流适配器100–240 V,交流 0.4 A50 Hz/60 Hz
透射光照明(需要可选的BX3M-PSLED电源)
电压式连续可变光强度控制盘
输入额定值5 V DC2.5 A(交流适配器100–240 V,交流 0.4 A50 Hz/60 Hz
外部接口(需要可选的BX3M-CBFM控制盒)
编码物镜转换器连接器 × 1
MIX
插片(U-MIXR-2)连接器 × 1
手控操作器(BX3M-HS)连接器 × 1
手控操作器(U-HSEXP)连接器 × 1
RS-232C
连接器 × 1USB 2.0连接器 × 1

对焦

带滚轮导轨的齿条和齿轮
手动、粗调和精调同轴手柄;对焦行程9 mm(载物台表面上方2 mm,下方7 mm
精调手柄每转行程:100 μmZ小刻度:1 μm
粗调手柄每转行程:7 mm
配粗调焦扭矩调节环
配粗调焦上限止动销

镜筒

宽视场(FN 22

倒置:双目镜(U-BI90U-BI90CT),三目镜(U-TR30H-2),可倾斜双目镜(U-TBI90

物镜转换器

明场孔:47个,类型:手动/编码,调中:启用/禁用
明场/暗场孔:56个,类型:手动/编码,调中:启用/禁用

载物台

GX右侧手柄载物台(X/Y行程:50×50 mmZ大载荷5 kg
活动式右侧手柄载物台、左侧短手柄载物台(各自X/Y行程:50×50 mmZ大载荷1 kg
滑动载物台(Z大载荷1 kg
一套水滴型和长孔型

重量

25 kg(显微镜镜架20 kg

环境

室内使用
环境温度:5°C40°C45°F100°F
Z大相对湿度:Z高温度31°C88°F)时为80%(无冷凝)
如超出31°C88°F),34°C93°F)时相对湿度线性下降到70%37°C99°F)时下降到60%
40°C
104°F)时下降到50%
污染等级:2(符合IEC60664-1要求)
安装/过电压类别:II类(符合IEC60664-1要求)
电源电压波动:±10%

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