用于高性能表面分析的 X 射线光电子能谱仪。
Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪 (XPS)系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果,使 XPS 操作简单直观,而不会牺牲性能或功能。K-Alpha XPS系统是一种集成式单色小光斑XPS系统,具备深度剖析能力。
更先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量,使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的较理想选择。K-Alpha XPS系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。
K-Alpha X 射线光电子能谱仪特点:
▲高性能X射线源
K-Alpha X射线光电子能谱仪配备的X射线单色器允许在50 µm 至 400 µm 的分析区域内以 5 µm 的步长进行选择,以寻求所需的信号更大化。
▲优的电子光学系统
高·效电子透镜、半球形分析仪和检测器,让K-Alpha X射线光电子能谱仪可实现更佳的检测和快速数据采集。
▲样品视图
使用K-Alpha XPS系统的光学观察系统和XPS SnapMap聚焦样品,帮助您快速确定分析测试区域。
▲绝缘样品分析
在K-Alpha X射线光电子能谱仪中,双束电子源将低能量离子束与低能量的电子(小于 1 eV)耦合,防止分析过程中的样品带电,从而在大多数情况下消除了荷电效应。
▲深度剖析
使用K-Alpha X射线光电子能谱仪所配备的EX06离子源进行更深层表面的分析。自动源优化和气体处理功能保障可靠的性能和实验重现性。
▲数码控制
由 Avantage 数据系统指导的直观操作使 K-Alpha XPS 系统成为多用户、测试中心和注重高~效操作和高测试量的 XPS 专家的较理想选择。
▲可选样品台
提供与K-Alpha X射线光电子能谱仪相匹配的各种特殊样品台供选择,包括用于变角 XPS、样品加偏压测试,或从手套箱惰性转移样品等等。
K-Alpha XPS系统性能数据:
分析仪类型
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180°双聚焦半球分析仪, 128通道探测器
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X 射线源类型
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单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源
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X 射线光斑尺寸
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50-400 µm(以 5µm 为单位可调)
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深度剖析
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EX06 离子源
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样品最大面积
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60x60 mm
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样品最大厚度
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20 mm
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真空系统
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两个涡轮分子泵,配有自动钛升华泵和机械泵
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可选配件
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ADXPS 样品 支架, 工作 功能 样品 支架, 手套 箱
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