所属系列：ZJYQ-HYYQJS-BRUKER
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M1 MISTRAL紧凑型台式微区 XRF 光谱仪
紧凑型多用途台式微区XRF，用于小点（100 μm）和多层镀层分析（2 nm - 60 μm 厚度范围），组成分析可低至 ppm 级别
M1 MISTRAL 是一种紧凑型多功能台式能量色散微区 XRF 光谱仪。 M1 MISTRAL 易于操作，设计用于在工业环境中快速、经济高效的操作，提供有关贵金属合金等材料元素成分和镀层厚度以及多层镀层的准确信息。
根据 ASTM 标准 B568 和欧洲标准 ISO 3497 对块体和镀层进行分析。通过 Rh 靶材对化学沉积磷镍 （NIP） 镀层进行分析，可实现高精度。
所有珠宝合金、铂族金属或银的成分可以在一分钟内确定。结果可以以重量百分比或克拉表示。
分析可以进行无标方法或基于标样的模型，以达到更高的精度。
从定位示例到在报表中打印结果 - 整个工作流程都可在软件中实现。同时，通过开放访问原始数据，保证了数据的可重现性。
M1 MISTRAL紧凑型台式微区 XRF 光谱仪的特点：
可以无破坏性地测量多种元素。无需样品制备。即使是复杂的分析任务也可以在可编程 XYZ 阶段实现自动化，只需单击鼠标即可开始。检测系统快速提供结果。
M1 MISTRAL 配有大面积硅漂移探测器 （SDD），具有优越的计数速率性能和能量分辨率，可将检测限制降低至 ppm 级别。高性能检测器、数字脉冲处理和优化的几何条件可产生高效的 X 射线检测，从而快速准确地获得分析结果。
M1 MISTRAL 的易于使用且免维护的设计以及功能强大的分析软件套件允许操作，即使只有接受过简短培训的人员也能够操作。无需消耗品或气体。坚固的结构确保了最高的稳定性和免维护的操作。
M1 MISTRAL紧凑型台式微区 XRF 光谱仪的应用：
镀层分析
金属镀层通过为各种产品提供增强的表面性能，对许多工业部门至关重要。金属镀层一般拥有耐用、耐腐蚀的特点，能够保护基体材料，并大限度地减少金属制品的磨损。镀层成分和厚度的质量控制对于确保正确的镀层性能和耐久性至关重要。
化学镀镍镀层
化学镀镍 （ENP） 是一种自动催化化学工艺，是在基材上沉积一层镍磷 （Ni-P） 合金镀层。镍磷镀层的主要优点之一是它能提供非常均匀的厚度，不依赖于零件的几何形状。化学镀镍可以覆盖所有隐藏的表面，即使在复杂的零件上也提供完整的涂层覆盖。
Rohs筛查
随着电子设备的日益增多，电子垃圾的产生速度也比以往任何时候都快。近年来，欧盟和其他国家制定了多项法规，以促进电子垃圾的回收利用，并减少与电子垃圾生产增加相关的健康和环境风险。
M1 MISTRAL紧凑型台式微区 XRF 光谱仪的技术细节：
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激发源 |
W 靶或 Rh靶的高性能微聚焦光管 |
最大样本大小和重量 |
48 x 49 x 20 cm3 高达 1.8 Kg |
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探测器 |
Peltier 冷却，30 mm2 高性能硅漂移探测器，<150 eV 能量分辨率，在 Mn Ka |
样品台最大行驶范围 |
高达 200 mm x 175 mm x 80 mm（用于带自动对焦和Easy Load功能的电动 XYZ 样品台） |
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多种元素 |
默认值：从 Ti （Z=22）W 靶 可选：从 Al （Z=13） Rh靶 |
仪器尺寸（W x D x H） |
550 mm x 680 mm x 430 mm |
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光斑大小 |
0.1 mm 至 1.5 mm 的准直器自动切换 |
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M1 MISTRAL紧凑型台式微区 XRF 光谱仪的XSpect Pro 分析软件套件：
仪器控制、数据采集和管理
用户可选触摸屏界面
样品台控制和编程
金属多层镀层厚度分析
定量成分分析、无标准和基于标准的经验模型
具有自动峰值识别的谱线查看功能
统计过程控制 （SPC） 趋势线和数据
报告生成器
结果存档
