所属系列：ZJYQ-GUYQOPA-NCS
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LIBSOPA 200激光光谱原位分析仪分析原理：
样品表面被高能激光击穿形成等离子体，等离子体光线经过滤波,分光之后被多通道的光电倍增管检测系统检测。根据光谱特征谱线波长得出被击穿位点的元素种类;定标后对应谱线的强度表示被击穿位点元素的浓度。借助精密三维移动平台在样品激发表面很好的定位和记录，实现任意点扫描，一维线性扫描，一维深度分析和二维面扫描分析，并据此获得与材料原位置相对应的各元素原始含量及状态信息，可以用统计解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。该方法不但有激光光谱的非接触分析、微区分析、深度分析的优点，又具备原位统计分布分析技术的原位性和统计性。LIBSOPA-200的研制成功为材料成分分析、缺陷分析、涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。
LIBSOPA 200激光光谱原位分析仪仪器特点：
1. LIBS技术与OPA技术结合的分析仪器。
LIBSOPA 200激光光谱原位分析仪主要技术参数：
真空光学系统：巴邢—龙格架法
