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菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ

所属系列:ZJYQ-HYZYDZ-FISCHER

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产品描述
FISCHERSCOPE® XDV®-μ光谱仪是Fischer的X射线荧光高配系列,专为在小结构上进行精Q的镀层厚度测量和材料分析而开发。所有仪器都配备了一个多毛细管光学元件,可将X射线束聚焦到10μm(FWHM)。与采用准直器的光学元件相比,多毛细管光学元件可以产生高辐射强度,从而大大缩短了测量时间。
所有FischerXRF仪器均配有功能众多的WinFTM软件,可在较高的JQ度下测量各种应用。WinFTM还有一个集成的报表生成工具,您只需单击一下就可以创建单个报表。此外,WinFTM软件还提供了向导性的校准。
XDV-μ设备通过滤波器,电压和电流设定的系列组合,允许您为多达24个元素的复杂应用创造较佳的激励条件。此外,XDV-μ配备了一个可编程的XY工作台和模式识别软件,很容易自动测量多个样品。
标准版本XDV-μ配备了钨X射线管,用于常规应用的高精度测试。也可根据需要选择钼和铬射线管。
XDV-μ仪器配备了一个大面积硅漂移探测器(有效面积50 mm²)和新型的数字脉冲处理器(DPP+)。这些组件一起使用时,可以实现很高的计数率,这有助于更小化测量时间,同时优化重复性。
菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ特点:
▷同时测量从Al(13)到U(92)的多达24个元素,XDV-μLD:S(16)-U(92)
▷多毛细管光学系统,可将X射线束聚焦到10μm(FWHM),用于微结构测量
▷可编程XY工作台和模式识别,用于多个样品的自动测量
▷扩展样品台方便样品的定位
▷向导式校准过程
▷稳健设计适合长期使用
▷光学显微镜(放大270倍),显示图像和激光定位点,可显示精Q的测量点
▷无需校准即可进行测量的基本参数分析
▷符合IPC-4552A、4553A、4554和4556,ASTM B568,ISO 3497标准
▷Fischer的认证标准片可追溯到国际公认的基本单位
菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ应用:
▷微米和纳米范围内的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni镀层
▷组装和未组装电路板
▷纳米范围内的基底金属化层(bump metallization,UBM)的测试
▷测量轻元素,例如 测量金和钯下的磷含量(在ENEPIG和ENIG中)
▷铜柱上的无铅焊料盖
▷测试C4和较小焊点的元素组成,以及半导体行业中的小接触面
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