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X 射线检测系统MXI Quadra™ 5 Pro/7 Pro
产品简介
Quadra 5 Pro 提供出色的功能和亚微米图像质量。 Quadra 5Pro 与 Quadra™ 7 Pro 共享许多相同的配件，包括 µCT 采集阶段、X 射线剂量过滤和薄样品托盘。
产品特点：
灵活的X光检测方案
Quadra® 5 Pro不仅能拍摄亚微米分辨率的图像，还能提供众多的其他功能。Quadra 5 pro与Qaudra™ 7 Pro共享了许多相同的功能套件，比如HCT的取像模块，X光辐射过滤盘以及薄样品托盘。
开拓性的软件
Revalution™控制软件具有简单直观的菜单及控制功能，便于快速开展工作。主界面布局可自定义，每个操作员都可保存自己习惯的布局，以获得更流畅的操作体验。提供自定义滤镜和图像增强功能，满足您的应用需求。通过鼠标简单的点击，即可迅速地完成缺陷分析，或生成自动化检查程序。
清晰度佳
Onyx""由我们的半导体人员团队自主设计研发，致力于提供业界佳性能。成像单元拥有世界的规格表现，可同时兼顾低光照时所需的高性以及高照度时所需的耐饱和性。Onyx™具有更高帧率、更低噪声，能更快速地为您提供更清晰的图像。
Quadra™ 7 Pro 为后端半导体应用提供更高分辨率的 3D/2D 手动检查设立了新标准。配备革新的 Onyx® 检测器技术，可提供的图像清晰度并降低噪声水平，通过高水平的准确性和效率来提升检查体验。
Quadra 7 Pro 配备新的双模 Quadra NT4® 管，为用户提供大的灵活性。这一功能提供亮度和分辨率模式，允许操作员根据特定的应用要求在两种模式之间动态切换。
除了的硬件外，Quadra 7 Pro 还配备新的 Revalution™ 软件。Revalution™ 软件专为半导体应用而设计，通过直观的界面、优化的工作流程和扩展功能来增强用户体验。它使操作员能够有效地分析和解释检查数据，有助于更快地制定决策并提高整体力。
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X光管类型 |
封闭穿透式 |
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分辨率 |
0.1 μm(10W以内)，0.3 μm(20W以内) |
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大功率 |
20w |
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电压范围 |
30-160kV |
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Aspire FP™平板探测器 |
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像素数： |
670万像素 |
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帧速率 |
30 fps |
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像素间距 |
50 μm |
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数字图像处理 |
16-bit |
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检测 |
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倾斜角度视图 |
70° |
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主动减震 |
AxiS - 主动式X-ray 图像稳定器 |
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显示分辨率(每英寸像素数)： |
185像素/英寸 |
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大检测区域 |
510 x 445 mm (20 x 17.5”) |
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大样品尺寸 |
2,500x |
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大样品重量(标准推盘) |
5kg(11 lbs) |
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大样品重量(碳纤维推盘) |
样品重量大500g |
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大总放大倍数 |
68,000x |
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显示器 |
24" 4K高清(分辨率3840×2160)双显示器，固定在可完全灵活调整的支架上系统 |
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系统 |
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设备尺寸 |
1570 W x 1500 D x 1900 H mm |
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设备重量 |
1950 kg (4300 lbs) |
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电源 |
单相 200-230 VAC, 16A |
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典型功耗 |
1KW |
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压缩空气 |
4-6 bar(干燥洁净)，用于防振 |
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环境温度 |
10-30°C |
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环境湿度 |
<85% (non-condensing) |
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操作方式 |
鼠标操作 |
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操作系统 |
Windows 10 64位 |
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X-ray Safety |
<1 μSv/hr Meets all international standards |
