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菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
产品简介
FISCHERSCOPE® XDV®-μ光谱仪是Fischer的X射线荧光高配系列，专为在小结构上进行精Q的镀层厚度测量和材料分析而开发。所有仪器都配备了一个多毛细管光学元件，可将X射线束聚焦到10μm（FWHM）。与采用准直器的光学元件相比，多毛细管光学元件可以产生高辐射强度，从而大大缩短了测量时间。
所有FischerXRF仪器均配有功能众多的WinFTM软件，可在较高的JQ度下测量各种应用。WinFTM还有一个集成的报表生成工具，您只需单击一下就可以创建单个报表。此外，WinFTM软件还提供了向导性的校准。
XDV-μ设备通过滤波器，电压和电流设定的系列组合，允许您为多达24个元素的复杂应用创造较佳的激励条件。此外，XDV-μ配备了一个可编程的XY工作台和模式识别软件，很容易自动测量多个样品。
标准版本XDV-μ配备了钨X射线管，用于常规应用的高精度测试。也可根据需要选择钼和铬射线管。
XDV-μ仪器配备了一个大面积硅漂移探测器（有效面积50 mm²）和新型的数字脉冲处理器（DPP+）。这些组件一起使用时，可以实现很高的计数率，这有助于更小化测量时间，同时优化重复性。
菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ特点：
▷同时测量从Al（13）到U（92）的多达24个元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
▷多毛细管光学系统，可将X射线束聚焦到10μm（FWHM），用于微结构测量
▷可编程XY工作台和模式识别，用于多个样品的自动测量
▷扩展样品台方便样品的定位
▷向导式校准过程
▷稳健设计适合长期使用
▷光学显微镜（放大270倍），显示图像和激光定位点，可显示精Q的测量点
▷无需校准即可进行测量的基本参数分析
▷符合IPC-4552A、4553A、4554和4556，ASTM B568，ISO 3497标准
▷Fischer的认证标准片可追溯到国际公认的基本单位
菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ应用：
▷微米和纳米范围内的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni镀层
▷组装和未组装电路板
▷纳米范围内的基底金属化层（bump metallization，UBM）的测试
▷测量轻元素，例如 测量金和钯下的磷含量（在ENEPIG和ENIG中）
▷铜柱上的无铅焊料盖
▷测试C4和较小焊点的元素组成，以及半导体行业中的小接触面
所有FischerXRF仪器均配有功能众多的WinFTM软件，可在较高的JQ度下测量各种应用。WinFTM还有一个集成的报表生成工具，您只需单击一下就可以创建单个报表。此外，WinFTM软件还提供了向导性的校准。
XDV-μ设备通过滤波器，电压和电流设定的系列组合，允许您为多达24个元素的复杂应用创造较佳的激励条件。此外，XDV-μ配备了一个可编程的XY工作台和模式识别软件，很容易自动测量多个样品。
标准版本XDV-μ配备了钨X射线管，用于常规应用的高精度测试。也可根据需要选择钼和铬射线管。
XDV-μ仪器配备了一个大面积硅漂移探测器（有效面积50 mm²）和新型的数字脉冲处理器（DPP+）。这些组件一起使用时，可以实现很高的计数率，这有助于更小化测量时间，同时优化重复性。
菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ特点：
▷同时测量从Al（13）到U（92）的多达24个元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
▷多毛细管光学系统，可将X射线束聚焦到10μm（FWHM），用于微结构测量
▷可编程XY工作台和模式识别，用于多个样品的自动测量
▷扩展样品台方便样品的定位
▷向导式校准过程
▷稳健设计适合长期使用
▷光学显微镜（放大270倍），显示图像和激光定位点，可显示精Q的测量点
▷无需校准即可进行测量的基本参数分析
▷符合IPC-4552A、4553A、4554和4556，ASTM B568，ISO 3497标准
▷Fischer的认证标准片可追溯到国际公认的基本单位
菲希尔XRF分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ应用：
▷微米和纳米范围内的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni镀层
▷组装和未组装电路板
▷纳米范围内的基底金属化层（bump metallization，UBM）的测试
▷测量轻元素，例如 测量金和钯下的磷含量（在ENEPIG和ENIG中）
▷铜柱上的无铅焊料盖
▷测试C4和较小焊点的元素组成，以及半导体行业中的小接触面
