晶圆样品上的电路图案显微观察检测解决方案
当需要对晶圆样品的电路图案和颜色进行显微观察时，传统的方法是对前者进行暗场照明、对后者进行明场照明，并在这两种技术之间反复切换。因为在创建报告时需要为每种技术采集图像，所以这种观察方法非常耗时。
晶圆明场 晶圆暗场
奥林巴斯的解决方案用于执行半导体/FPD检测的MX63/MX63L工业显微镜提供了一种可有效替代传统观察方法的解决方案：MIX 照明功能。利用MIX照明功能，可同时观察晶圆的电路图案和颜色信息。MIX图像的锐度和清晰度可帮助提高工作效率和改进报告生成过程。
晶圆MIX
产品功能简化的工作流程
MX63/MX63L显微镜可帮助简化整个检测工作流程，并在洁净室环境中也具有同样的性能水平。
用户友好界面
借助用于控制对焦、光强和孔径的各种功能，可方便地调整MX63/MX63L显微镜设置。MX63/MX63L显微镜易于操作，即使是新手操作员也可以在适当的观察条件下进行检测。
成像技术
MX63/MX63L显微镜基于数十年丰富光学经验构建，可提供鲜明清晰的图像，有助于确保获得可靠的测量结果。
模块化
MX63/MX63L显微镜采用模块化设计，使用户可以选择丰富的光学元件以满足自己的特定应用需求。无需过多投资即可构建所需的系统。
来源：奥林巴斯网站
