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原子力显微镜NaioAFM

原子力显微镜NaioAFM

产品简介

原子力显微镜NaioAFM概览:

纳米教学领域的优质AFM

一体化的即插即用的袖珍AFM系统

使用简单,众所周知

所有的标准操作模式都可用

NaioAFM 是纳米教学和小样品基础研究的理想原子力显微镜。 这一一体化的袖珍AFM系统提供了优质可靠的性能却操作方便,价格亲民,结构小巧,适用于广泛场合。

几分钟内就可以开始测量

使用NaioAFM, 仅需插上电源和USB线,启动界面友好的软件,几分钟内就可以开始工作,省掉了仪器设置的时间和麻烦,观看我们的OVERVIEW 视频你就可以知道。 因为NaioAFM带有悬臂校准芯片,悬臂更换也变得更加简单,繁琐激光校准也是过去式了。 观看悬臂更换视频你就可以发现换针是如此的方便。

NaioAFM 成像模式:

以下描述为仪器所具备的所有模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。

1、标准成像模式:

静态力模式

动态力模式(轻敲模式)

相位成像模式

2、磁性能:

磁力显微

3、电性能:

导电探针 AFM (C-AFM)

静电力显微 (EFM)

扫描扩散电阻显微(SSRM)

4、机械特性:

力谱

力调制

刚度和模量

附着力

力映射

5、其它测量模式:

光刻和纳米加工

原子力显微镜NaioAFM附加选项和组件:

1、侧视摄像头

USB数码侧视摄像头有1280 x 1024像素传感器和2 x 2 mm 视野。此侧视摄像头装在NaioAFM的顶部,在控制软件上显出侧面视图。 它可帮助用户观察在手动或自动趋近时微悬臂到样片的距离。

2、防震隔离台 300

Nanosurf的防震隔离台可实现无震动干扰的测量

3、各种模式套件

动态力模式盒

EFM模式盒

力调制模式盒

相位成像模式盒

标准光刻模式盒

标准MFM 模式盒

标准光谱模式盒

静态力模式盒

4AFM 扩展样片套件

AFM 扩展样品套件包括10个不同学科的样本以及样品处理工具。该工具包附有一份详细的手册,既可支持课程开发,也可用作每次测量的课堂指南。

原子力显微镜NaioAFM技术参数:

扫描头

最大扫描范围 / 扫描高度 (分辨率) (1)

70 µm (1.0 nm) / 14 µm (0.2 nm)

静态 / 动态 RMS Z-噪音

典型值 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 典型值 0.3 nm (最大 0.8 nm)

最大样片尺寸 / 高度

12 mm / 3.5 mm

最大样片台定位范围

最大每个方向12 mm (从中心到四面 6 mm )

顶视摄像头

3×3 mm FOV, 4× 数字变焦, 2 µm 光学分辨率, 2048×1536 像素, 轴内 LED 照明

侧视图观察

5×5 mm FOV, 可变 LED 照明(可选侧视图摄像头: 2×2 mm FOV, 1280×1024 像素)

样品趋近

4 mm 线性马达, 连续趋近或步进

(1) 制造公差 ±10%

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