TriStar II Plus比表面与孔径分析仪

产品简介

TriStar II Plus是一款完全自动化分析并带有三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪，它能够有效提高常规质量控制分析的速度和效率；同时还拥有高精度、高分辨率和数据简化能力，以满足大多数研究需求。TriStar II Plus可兼容多种分析方法和数据简化，用户可优化分析特定的应用。

特点：

1、实现无干扰操作，寻求可重复的腔室体积

2、特的歧管设计，可用于高精度的气体控制

3、三个分析站可同时运行，但又相互立。三个BET比表面积的测量可在20分钟内完成；四台Tristar可由一台计算机控制以应付更多样品测试

4、标配的 Po 端口可连续进行饱和蒸气压的测量。饱和蒸气压可手动输入、连续测量或在样品中收集。 TriStarII Plus 可方便的控制和微调分析速度和精度

5、等温夹套寻求样品及 Po 管温度长效恒定

6、长效杜瓦瓶设计，提供高达40h 的连续温度控制

为什么选择 TriStar II Plus比表面与孔径分析仪?

TriStar II Plus 提供的高通量系统，三个样品端口可同时立运行。为进一步提高通量，一台计算机多可控制四台设备。
使用标准氮气系统，比表面积测试低可达 0.01 m²/g 。。可选配氪气系统应用于低至 0.001 m²/g 比表面材料测试。
TriStar II Plus 可使用多种吸附质进行分析，包括氩气、二氧化碳，以及丁烷、甲烷等其他非腐蚀性气体和轻质烃类。
自由空间可以测量、计算或手动输入，提供了大的灵活性，以适应特殊类型的样品以及需要时可快速测量。
等温夹套寻求样品等温套及 _P0 管温度长效恒定。
数据简化分析和控制软件MicroActive使用户能交互式地计算比表面和孔隙度。通过图形界面，用户可以自己选择数据范围分析，从而直接编辑和解读BET，t-plot，Langmuir和DFT模型结论。
增强的软件功能可通过气体吸附和压汞法叠加以及 NLDFT 获得的孔径分布数据。

性能

压力测量

对压力	范围：0 至 950 mmHg 分辨率：0.05 mmHg 以内精度：全量程的 0.1% 以内线性度：< 量程的 ± 0.1%
相对压力	_P/P0范围：0 至 1.0_P/P0 分辨率： < ^10-4

分析范围

吸附气体

氮气单元	氮气；氩气、二氧化碳或其他非腐蚀性气体；丁烷、甲烷或其他轻烃蒸汽。氧气仅在使用适当真空泵时可用。
氪气单元	与氮气单元相同，另具备在较低压力下进行氪气表面积分析的能力。

歧管温度

Accuracy	±0.25 °C
分辨率	0.1 °C 以内

真空系统

氮气单元	必须能达到 20 ×^10-3mmHg 或更好；使用油基或无油真空泵。
氪气单元	必须能达到 1 ×^10-3mmHg；需要无油真空泵。

工作环境

物理参数

电气参数

所提供的规格在发布时从现有文件中摘录有效。这些规格可能会更改，恕不另行通知，仅供一般参考。