参数
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方法名称 |
基于条纹投影相移原理 |
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XY像素大小 |
1.1 μm x 1.1 μm |
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Z方向测量范围 |
1 μm – 60 μm |
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测样区域 |
1.41 mm x 1.06 mm (XY). (大到: 4.2 mm x 4.2 mm) |
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工作距离 |
18 mm |
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样品尺寸上限 |
无限x 320 mm x 22 mm (L x W x H) |
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成像选项 |
光学图像, 2D粗糙度图, 3 D粗糙度图 |
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每次测量持续时间 |
5-30 s |
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分析参数(ISO 4287, ISO 4288) |
r (Wenzel 方程);θc, 粗糙度修正接触角/Wenzel接触角;Sdr (%), Sa (μm), Sq (μm);水平、垂直和 2D 线形区域的Ra, Rq,Rp, Rv, Rz, R10z |
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波纹过滤 |
高斯高通滤波器(ISO 11562) |
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样品要求/局限性 |
需要漫反射面 |
硬件
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尺寸 |
17 cm x 16.5 cm x 11.5 cm |
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重量 |
2.6 kg |
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电压 |
100~240 VAC |
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频率 |
50-60 Hz |
系统要求
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计算机 |
2G处理器,4G内存,500G硬盘,1920x1080分辨率显示器,1个USB3.0端口 |
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推荐使用防震台或大理石实验台 |
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要求配置 |
XYZ全自动样品台 |