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平板显示器/大规模集成电路（FPD/LSI）检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N
产品简介
FPD/LSI检查显微镜 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的较理想选择。主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查，如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留，检查有机EL显示屏。
平板显示器/大规模集成电路（FPD/LSI）检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N特点：
•尼康CFI60-2光学系统
尼康的光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；
•多种镜检方式
透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
•数字化智能通信
显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。
•人体工学设计
使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。
主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。
平板显示器/大规模集成电路（FPD/LSI）检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N特点：
•尼康CFI60-2光学系统
尼康的光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；
•多种镜检方式
透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
•数字化智能通信
显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。
•人体工学设计
使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。
主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。
