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HITACHI日立全自动扫描探针显微镜AFM5500MⅡ

HITACHI日立全自动扫描探针显微镜AFM5500MⅡ

产品简介

扫描探针显微镜AFM5500MⅡ配置宽范围平板扫描器,降低了机械原因造成的测量误差。自动悬臂更换等自动化功能有助于提升品质管理,提高测试效率。
单使用AFM5500MⅡ测试可以得到形貌和物理测量结果,再利用与SEM/CSI等其他显微镜的共享坐标样品台功能,可以实现高精度的故障解析与缺陷评价。
此外,由于新增了AFM标记功能,多台设备可以轻松测量样品的同一位置。

HITACHI日立全自动扫描探针显微镜AFM5500MⅡ规格:



型号

AFM5500M

尺寸重量

装置外观尺寸重量※1

750 mm(W) x 877 mm(D) x 1400 mm(H)、约361 kg

AFM主机外观尺寸重量※1

340 mm(W) x 502.5 mm(D) x 546 mm(H)、约31.6 kg

检测系统

检测方式

光杠杆法

光源

SLD(发光二管激光器)

悬臂加振方式

压电激振

规格

基本规格

RMS噪音水平※2

≤0.04 nm

重现性※2

XY ≤ 15 nm10 μm垂直间隙测量)
Z≤1 nm100 nm深度测量)

XY正交性※2

90°±0.5°(在扫描角度45°90°时)

平坦度(圆弧误差)※2

≤2 nm/50 μm

大样品尺寸

φ100 mm4英寸)、厚度 20 mm、重量 2 kg

扫描器(扫描范围)

XY: 200 μm/: 15 μmXY:闭环控制/Z: 位移传感器测量)

光学显微镜视野※3

放大倍率: 1X7X
910 μm ×650 μm130 μm×90 μm

基本功能

AFMDFMPM(相位)、FFM

减震隔音机构

台式主动减震台、隔音罩

自动精密马达台

大观察范围

直径 100 mm4英寸)

马达台移动范围

XY≥100 mmZ≥21 mm

小步进※4

XY 2 μm、Z 0.04 μm

AFM主机

RealTune

自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速度以及信号反馈

操作界面

导航功能、多窗口显示功能(测试/分析)、3D图像叠加功能、扫描可动范围/测量记录显示功能、数据批处理分析功能、探针评价功能、样品台对中功能、程序功能、故障诊断功能

实时测量(像素点)

四通道测量(大2048x2048)
双通道测量(大4096x4096)

长方形扫描

2:14:18:116:132:164:1
128:1256:1512:11024:1

数据分析

三维显示功能、线粗糙度分析、面粗糙度分析、截面图(任意、平均)

自动控制功能

自动更换悬臂、光轴自动调节

选配功能

测量环境

大气环境

扩展测量模式(选配)

SIS形貌、SIS物性、SIS-ACCESSSIS-QuantiMech(弹性模量测定功能)
机械物性系统(LM-FFMVE-AFMAdhesion
电气特性Ⅰ(KFMAM/FM)、EFMAC/DC)PRMMFM
电气特性Ⅱ(SSRMCurrentNano)、CurrentPico))

其他功能(选配)

高至100 V 偏压放大器、
外部偏压输入电缆、软X射线静电消除装置、紧急停机键

共享坐标样品台功能
(选配)

AFM标记

样品厚度

4 mm以下

SEM-AFM

大样品尺寸

φ20 mm、厚度 7 mm

对中精度

≤±10 μmAFM对中精度)

支持型号

欢迎垂询。

CSI-AFM

大样品尺寸

φ80 mm、厚度 7 mm

对中精度

≤±10 μmAFM对中精度)

支持型号

欢迎垂询。

电源

AC 100240 V±10%、单相、50/60 Hz15A1系统、D种接地、带接地

1仪器外观尺寸和重量均为标准配置的数值。这些数值会有装配公差,仅供参考。

2规格值为出厂标准值。不力求所有安装环境均可得到同一性能。

3显微镜视野尺寸为设计值中大测量区域。因元件差异可能有所不同。

4精密电动马达台的小步距为设计值。


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