终质量控制：Epsilon 4可用于终检测，以寻求质量和成分，不同形状和厚度的产品在大样本模式下进行分析。

Epsilon 4 台式能量色散型 X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 特点：
▲台式 XRF
Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
▲聚合物应用解决方案
获取正确的校准样品是进行 XRF 分析的关键。 对于塑料和聚合物行业，我们了特的校准解决方案，用于准确分析添加剂和催化剂残留物 (ADPOL)、有毒元素 (TOXEL)，依据 ASTM F2617 和 IEC 62321-3-1 寻求符合 RoHS 标准 (RoHS)。
▲迅速、
硅漂移检测器技术可产生明显更高的射线强度，从而实现快速测量。 
特的检测模块可以处理过 1,500,000 cps 的线性计数率（50% 的死时间，非线性度<1%），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV（@300 kcps），可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪越了传统台式仪器，实现了更快的测试响应和更低的检出限。  这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。
▲低运行成本
Epsilon 4 不需要使用昂贵的酸、气体和通风柜，如在 ICP 和 AAS 中。 要求是电源供电，在某些情况下使用氦气提升样品中轻元素的灵敏度。 同样，XRF 光谱仪中的各种成分不会暴露在摩擦或高温下，因此可以存留很多年。
▲非破坏性分析
使用 Epsilon 4 进行测量是直接在疏松粉末或终产品上进行的，几乎不需要进行样品制备。 由于 XRF 是一项无损技术，因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。
Epsilon 4 台式能量色散型 X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 参考技术指标：