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X射线荧光光谱仪Epsilon4建筑材料测试仪
产品简介
X射线荧光光谱仪Epsilon4建筑材料测试仪特点：
◇台式 XRF 的
Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
◇准确的结果
高性能金属陶瓷 X-射线管由马尔文帕纳科设计和，寻求提供数据和可靠结果。 从 4.0 到 50 kV 的灵活电压设置以及高 3.0 mA 的电流设置可用于确定适合特定应用的激发条件，能够优化元素周期表中各种元素的性能。
◇无人值守式运行
可自旋装置以及在 10位进样系统特性方便了自动化的成批样品处理，中间无需操作员的介入。 测量时，被测样品的自旋可以尽量避免单个样品内部质地不均，或者表面不规则而造成的错误，从而提供更准确的结果。
◇迅速、灵敏
利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。
探测器电路提供的线性计数率可过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 （eV@300 kcps），可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪越了传统台式仪器，实现了更快的测试响应和更低的检出限。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。
◇降低氦气消耗量
Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，从而减少了氦气和真空的使用成本和切换时间。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，寻求在各种气候条件下检测的结果不受影响。
◇台式 XRF 的
Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
◇准确的结果
高性能金属陶瓷 X-射线管由马尔文帕纳科设计和，寻求提供数据和可靠结果。 从 4.0 到 50 kV 的灵活电压设置以及高 3.0 mA 的电流设置可用于确定适合特定应用的激发条件，能够优化元素周期表中各种元素的性能。
◇无人值守式运行
可自旋装置以及在 10位进样系统特性方便了自动化的成批样品处理，中间无需操作员的介入。 测量时，被测样品的自旋可以尽量避免单个样品内部质地不均，或者表面不规则而造成的错误，从而提供更准确的结果。
◇迅速、灵敏
利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。
探测器电路提供的线性计数率可过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 （eV@300 kcps），可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪越了传统台式仪器，实现了更快的测试响应和更低的检出限。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。
◇降低氦气消耗量
Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，从而减少了氦气和真空的使用成本和切换时间。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，寻求在各种气候条件下检测的结果不受影响。
X射线荧光光谱仪Epsilon4建筑材料测试仪参考技术指标：
|
样品处理 |
X 射线管 |
检测器 |
软件 |
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具备 10 个位置的可移动样品交换器 |
稳定性高的金属陶瓷侧窗 |
高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，通常为 135 eV @ Mn-Kα |
通过 Omnian 无标分析解决方案，替代燃料的元素筛选 |
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光谱仪多可容纳直径 52 毫米（2 英寸）的样品 |
50 微米薄铍窗，对轻元素高度（Na、Mg、Al、Si） |
大值(M) 计数率 1,500,000 c/s（在 50% 的死时间下） |
通过 FingerPrint 解决方案，进行合格/不合格分析 |
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包含自旋器，以提高空气滤清器分析的准确性 |
Ag 阳 X 射线光管，获得 P、S 和 Cl 分析性能 |
薄入探测器射窗，高灵敏度 |
使用 Oil-Trace，在新润滑油和使用过的润滑油中对磨损金属进行灵活校准 |
