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M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪
产品简介
固体、镀层、颗粒和液体样品的元素分析。高性能微区X射线荧光成像光谱仪(Micro-XRF)，用于微区分析（<20 µm spot size) ，提供非均匀样品表面不同元素的面分布信息以及定量结果。
M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的较佳设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息，甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化，可对多种类型的样品的点、线和二维区域扫描（Mapping）进行高速分析; 样品类型可为固态，液态，颗粒等。
靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后，在保证荧光强度的同时可产生很小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 （SDD），可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。
M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管，它提供了不同的靶材以及准直器，可实现设备分析功能的更大拓展。
其他可选配置选项：
•He吹扫能够提高轻元素检测灵敏度，使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测
•可快速更换的地质样品测试支架，适用于矿物薄片和岩芯测试
•XMethod 软件，支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法
•用于矿物 分析的AMICS 软件
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪(Micro-XRF)特点：
测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、"On-the -fly" mapping ，单点测试时间可低至 1 ms。
测量样品高达 7kg。大型真空样品仓，可自由调节真空度，最低可至2mbar，自动He或N2吹扫，可检测含水样品中的轻元素。
单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap，包含所有像素点光谱信息以及光学图像。
定量分析单点，线扫描，面扫描测试结果。配置的基本参数方法，可选的XMethod软件包，实现对镀层等样品的准确定量。
处理数据。强大的分析软件，可在面扫描结果中选择任意对象（椭圆，矩形，多边形）进行光谱提取，线扫描数据提取，z大像素光谱，相分析。
扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置，以满足您的分析需求。
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪(Micro-XRF)应用：
建筑材料 - 混凝土
混凝土是由许多复杂化合物组成的混合物，其耐久性取决于环境条件。Micro-XRF 可对大面积混凝土进行面扫描测试，可在短时间内获得高分辨率的元素分布图。
渐变镀层厚度组成面扫描分析
M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的较佳设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息，甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化，可对多种类型的样品的点、线和二维区域扫描（Mapping）进行高速分析; 样品类型可为固态，液态，颗粒等。
靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后，在保证荧光强度的同时可产生很小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 （SDD），可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。
M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管，它提供了不同的靶材以及准直器，可实现设备分析功能的更大拓展。
其他可选配置选项：
•He吹扫能够提高轻元素检测灵敏度，使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测
•可快速更换的地质样品测试支架，适用于矿物薄片和岩芯测试
•XMethod 软件，支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法
•用于矿物 分析的AMICS 软件
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪(Micro-XRF)特点：
测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、"On-the -fly" mapping ，单点测试时间可低至 1 ms。
测量样品高达 7kg。大型真空样品仓，可自由调节真空度，最低可至2mbar，自动He或N2吹扫，可检测含水样品中的轻元素。
单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap，包含所有像素点光谱信息以及光学图像。
定量分析单点，线扫描，面扫描测试结果。配置的基本参数方法，可选的XMethod软件包，实现对镀层等样品的准确定量。
处理数据。强大的分析软件，可在面扫描结果中选择任意对象（椭圆，矩形，多边形）进行光谱提取，线扫描数据提取，z大像素光谱，相分析。
扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置，以满足您的分析需求。
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪(Micro-XRF)应用：
建筑材料 - 混凝土
混凝土是由许多复杂化合物组成的混合物，其耐久性取决于环境条件。Micro-XRF 可对大面积混凝土进行面扫描测试，可在短时间内获得高分辨率的元素分布图。
渐变镀层厚度组成面扫描分析
微区XRF在微米尺度具有较佳的空间分辨率，能够对渐变镀层（厚度和组成）进行元素分布快速成像，XMethod 软件可进一步对镀层厚度以及化学组成面分布进一步准确定量分析。
