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微涂层测厚仪AM-112-200F

微涂层测厚仪AM-112-200F

产品简介

微涂层测厚仪AM-112-200F产品描述:
微型涂层测厚仪分为两个类型:F型、NF型。F型用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层厚度;N型用涡流传感器测量非导磁金属基体上的绝缘覆盖层厚度。 专用于微小工件上的涂层测量。 它采用计算机技术,无损检测技术等多项先进技术,无需损伤被测体就能准确地测量出它的厚度。并且带有RS-232C数据连接线、USB数据连接和蓝牙传输功能。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
微涂层测厚仪AM-112-200F产品特点:
* 铁基涂层测厚仪。
* 有单次和连续两种测量方式可选。
* 公/英制单位转换,有手动关机、自动关机和欠压提示等功能。
* 自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质;操作过程中有蜂鸣器提示音, 连续测量时蜂鸣器不发声。
* 采用USB数据线输出与PC通讯;另外提供可选配置蓝牙Bluetooth数据输出选择。
微涂层测厚仪AM-112-200F产品参数:

分辨率

0.1um

准确度

±(1~3%n)或±2.5um

测试范围

0~200um

测量面积

2mm

最薄基体

0.1mm

最小曲面

F 型凸2mm / 4mm

操作条件

温度-5~50°C

湿度<95%RH

电源

4x1.5AAA   7号电池

主机尺寸

140x70x30mm

主机重量

130g (不含电池)

微涂层测厚仪AM-112-200F产品配件:

标准配件

主机

铁基(1块)

校准膜片(1套)

测量传感器

手提便携箱

操作说明书

可选配件

USB数据线输出

蓝牙Bluetooth数据输出

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